在使用臺式X熒光光譜儀分析時，需要對其進行基體效應的校正，基體效應一直以來都是一個很麻煩的問題，但是隨著計算機技術的不斷發展，已對小型X熒光光譜分析法采用數學校正法來校正元素間的相互影響這個方法可分為三類：經驗系數法、理論影響系數法和基本參數法。
經驗系數法
這個方法是通過測定一定數量的一組標樣(該組標樣的元素含量應打破相關性)，根據所給出的組份化學分析值和測得的熒光強度數據，通過非線性ZUI小二乘法或者人工神經網絡等數學模型，求得影響系數，來進行元素定量分析的方法。
理論影響系數法
理論a系數法是在20世紀70年代發展起來的，也是受計算工具的限制，人們總是尋找簡單的數學模型，而又依從X熒光的基本理論。這種方理論影響系數法有多種模式，其數學模式是從Sherman方程推導出來的，只是各自采用了某種假設或者近似，目前應用比較廣泛，可對基體情況變化較大的樣品進行計算。
基本參數法
基本參數法是應用熒光X射線強度理論計算公式及原級X射線的光譜強度分布、質量吸收系數、熒光產額、吸收限躍遷因子和譜線分數等基本物理常數，通過復雜的數學迭代運算，把測量強度轉換為元素含量的一種數學校正方法。該法影響因素復雜，計算量巨大，其計算準確性主要取決于理論相對強度計算的準確性。它需要的標樣很少，但基本參數值的相對誤差可達2%~5%，基體組成也不要求與標樣相似，在適當條件下，使用單標樣甚至不用標樣也可以給出近似的可接受的結果。基本參數法可以有效的降低對標樣數量的要求是少標樣、無標樣定量分析的根本。
以上就是使用臺式X熒光光譜儀時，基體效應的校正方法。