直讀光譜儀叫原子發(fā)射光譜儀的原因是相對(duì)于攝譜儀和早期的發(fā)射光譜儀而言，由于在70年代以還沒(méi)有計(jì)算機(jī)采用，所有的光電轉(zhuǎn)換出來(lái)的電流信號(hào)都用數(shù)碼管讀數(shù)，然后在對(duì)數(shù)轉(zhuǎn)換紙上繪出曲線并求出含量值，計(jì)算機(jī)技術(shù)在光譜儀應(yīng)用后，所有的數(shù)據(jù)處理全部由計(jì)算機(jī)完成，可以直接換算出含量，所以比較形象的就叫直接可以讀出結(jié)果，簡(jiǎn)稱就叫直讀。
目前商品化的儀器主要是固定通道式光電直讀光譜儀，光電直讀光譜儀主要由激發(fā)光源、光學(xué)系統(tǒng)、檢測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成，光電直讀光譜儀的檢測(cè)器是PMT，此種檢測(cè)器的設(shè)計(jì)具有性能穩(wěn)定，信號(hào)增益率高的特點(diǎn)，且分析通道獨(dú)立，相互不受影響。
隨著科技的分速發(fā)展，電感耦合器CCD應(yīng)用于火花直讀光譜儀的電子檢測(cè)器件，CCD檢測(cè)器件的應(yīng)用使光譜儀實(shí)現(xiàn)小型化成為可能，但是由于此項(xiàng)技術(shù)在這一領(lǐng)域應(yīng)用時(shí)間短，很多問(wèn)題有待進(jìn)一步完善；
1、CCD檢測(cè)器受環(huán)境條件，尤其是受溫度的影響很大，因此環(huán)境條件的變化對(duì)儀器穩(wěn)定性有為突出，特別是爐快速定量分析更加明顯。
2、在分析時(shí)，CCD型的光譜儀器一般要求每次分析都要先激發(fā)標(biāo)準(zhǔn)樣品，并進(jìn)行儀器校正，然后在進(jìn)行樣品分析，否則，誤差很大。
3、CCD是一個(gè)檢測(cè)器件，其自身的強(qiáng)檢測(cè)能力也帶來(lái)了波動(dòng)大、輸出大噪音等嚴(yán)重缺點(diǎn)， CCD在低溫工作時(shí)，暗電流非常低，因此，CCD檢測(cè)器的光譜儀器慢慢淡出市場(chǎng)。
隨之而來(lái)的是CMOS檢測(cè)器件的光譜儀，CMOS光譜儀的景很好，其主要原因：
1、它既能具備PMT光譜儀的精度還具備CCD直讀光譜儀的全譜特性，應(yīng)該是光譜儀的大趨勢(shì)。
2、信噪比低了將近100倍，所以檢出限比CCD低了非常多。CMOS噪聲相對(duì)CCD來(lái)說(shuō)幾乎是沒(méi)有的，所以測(cè)樣的穩(wěn)定性比CCD好很多。
3、由于CMOS的光路結(jié)構(gòu)，使其可以接收從深紫外區(qū)域到1000 nm的波長(zhǎng)譜線，比CCD光譜儀的譜線范圍還要廣，覆蓋的元素種類(lèi)還要多。很多行內(nèi)家都十分看好。
